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應(yīng)用領(lǐng)域
我們的熱分析設(shè)備所應(yīng)用的領(lǐng)域
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林賽斯 DIL L75 水平熱膨脹儀和 DIL L75 垂直熱膨脹儀是用于測(cè)量固體、液體、粉末和糊狀物熱長(zhǎng)度變化的高精度儀器。
DIL L75 水平熱膨脹儀具有高度真空密封的設(shè)計(jì)，能夠在真空以及氧化性和還原性氣氛下進(jìn)行測(cè)量。DIL L75 垂直熱膨脹儀的特點(diǎn)在于其“零摩擦”設(shè)計(jì)，這特別適用于燒結(jié)研究和具有極低膨脹的材料。這兩種系統(tǒng)均采用高分辨率線性電感位移傳感器，確保高精度、可重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
得益于優(yōu)異的溫度控制以及可選擇適配于手套箱使用的特性，它們的應(yīng)用十分廣泛。此外，這兩種型號(hào)都提供自動(dòng)壓力控制，該功能允許根據(jù)不同的應(yīng)用情況來(lái)調(diào)節(jié)接觸壓力，并在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中保持壓力恒定。
DIL L75 垂直熱膨脹儀的低溫選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)在 -263 ℃ 至 220 ℃ 的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，它提供了多種樣品支架，支持真空操作和可控氣氛環(huán)境，并確保了測(cè)量的高精度以及操作的簡(jiǎn)便性。
| 類型 | DIL L75 Horizontal * | DIL L75 Vertical * | |
| 溫度范圍： | -180 - 2800 °C | -263 - 2800°C | |
| LVDT | |||
| Delta L?分辨率： | 0.03 nm | 0.03 nm | |
| 測(cè)量范圍： | ±2500 μm | ±2500 μm | |
| 接觸力： | 10 mN -?1 N | 10 mN -?1 N | |
| 光學(xué)編碼器 | |||
| Delta L?分辨率： | 0.1 nm | 0.1 nm | |
| 測(cè)量范圍： | ±25000 μm | ±25000 μm | |
| 自動(dòng)樣品長(zhǎng)度檢測(cè)： | 具備 | 具備 | |
| 接觸力控制: | 具備 | 具備 | |
| 接觸力： | 10 mN -?5 N | 10 mN -?5 N | |
| 多爐體配置： | 最多 2 個(gè)爐體 | 最多 3 個(gè)爐體 | |
| 電動(dòng)爐體選項(xiàng)： | 可選 | 可選 | |
| 氣體流量計(jì)： | 手動(dòng)氣體計(jì)量或質(zhì)量流量控制器，可控制 1 種、3 種或更多種氣體 | 手動(dòng)氣體計(jì)量或質(zhì)量流量控制器，可控制 1 種、3 種或更多種氣體 | |
| 接觸力調(diào)整： | 包含 | 包含 | |
| 單桿 / 雙桿熱膨脹: | 可選 | 可選 | |
| 軟化點(diǎn)檢測(cè)： | 包含 | 包含 | |
| 密度測(cè)定： | 包含 | 包含 | |
| L - DTA： | 可選（可達(dá) 2000 °C） | 可選（可達(dá)?2000 °C） | |
| 速率控制燒結(jié) (RCS)： | 包含 | 包含 | |
| 熱分析數(shù)據(jù)庫(kù)： | 包含 | 包含 | |
| 電恒溫探頭： | 包含 | 包含 | |
| 低溫附件： | LN2，內(nèi)部冷卻器 | LN2，內(nèi)部冷卻器 | |
| 真空密閉設(shè)計(jì)： | 具備 | 具備 | |
| 自動(dòng)排空系統(tǒng)： | 可選 | 可選 | |
| OGS 除氧系統(tǒng)： | 可選 | 可選 | |
| * 規(guī)格取決于配置 |
熱膨脹法是一種用于測(cè)定玻璃陶瓷熱膨脹系數(shù)（CTE）和軟化點(diǎn)的極好的方法。除了絕對(duì)膨脹量之外，還可以計(jì)算相對(duì)膨脹量和熱膨脹系數(shù) (CTE)，以及絕對(duì)膨脹量對(duì)溫度的一階導(dǎo)數(shù)。 微分曲線的零值點(diǎn)處對(duì)應(yīng)的是熱膨脹量的最大值，因此可以精確地計(jì)算出材料的軟化點(diǎn)。
在高科技陶瓷的生產(chǎn)過(guò)程中，燒結(jié)過(guò)程的模擬具有重要意義。使用可選的速率控制燒結(jié)（RCS）軟件包，可以根據(jù) PALMOUR III 理論，使用熱膨脹儀來(lái)控制材料的燒結(jié)過(guò)程。
此應(yīng)用展示了二氧化鋯（ZrO?）生坯（一種典型的陶瓷原材料）的燒結(jié)過(guò)程。 在此應(yīng)用中，對(duì)氧化鋯（ZrO?）的燒結(jié)過(guò)程進(jìn)行控制，通過(guò)將升溫速率作為密度的函數(shù)來(lái)進(jìn)行調(diào)控，從而實(shí)現(xiàn)最終達(dá)到 100 % 的致密度。
使用 L75 熱膨脹儀和差熱分析（DTA）評(píng)估附加組件，可以對(duì)結(jié)晶態(tài)（SiO?）樣品進(jìn)行同時(shí)帶有溫度校準(zhǔn)的 DTA 測(cè)量。在樣品的線性升溫階段，控制行為會(huì)因吸熱和放熱反應(yīng)而發(fā)生改變，并且該變化會(huì)由軟件程序進(jìn)行校正。從這些變化中生成一條 DTA 曲線。
根據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道，對(duì)于 SiO? 而言，這種轉(zhuǎn)變發(fā)生在 574 ℃ ，因此可以利用 DTA 峰來(lái)檢驗(yàn)校準(zhǔn)情況。
