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TFA - 薄膜綜合物性分析儀

高質(zhì)量且易于使用的薄膜表征系統(tǒng)，可在單次測(cè)量中完成所有特性參數(shù)的表征。

在許多工業(yè)領(lǐng)域和應(yīng)用中，精確掌握薄膜物理特性的知識(shí)變得愈發(fā)重要。典型實(shí)例包括相變材料、光存儲(chǔ)介質(zhì)、熱電材料、發(fā)光二極管（LED）、燃料電池、相變存儲(chǔ)器、平板屏幕以及廣義上的半導(dǎo)體行業(yè)。
所有這些行業(yè)均使用單層或多層系統(tǒng)，以使器件（或組件）具備特定功能。薄膜的物理特性與固體材料存在差異顯著，這是因?yàn)檩^大的縱橫比（膜厚度與橫向擴(kuò)展的比例）通常會(huì)引發(fā)額外的邊界和表面散射效應(yīng)，進(jìn)而往往導(dǎo)致電荷和熱輸運(yùn)顯著減少。此外，用于制備薄膜的沉積技術(shù)種類繁多，這些技術(shù)對(duì)薄膜的材料特性也會(huì)產(chǎn)生重要影響。
由于在某些情況下，表征薄膜與固體材料的要求存在顯著差異，因此必須針對(duì)這兩個(gè)領(lǐng)域采用不同的測(cè)量技術(shù)，借助合適的測(cè)量設(shè)備來確定其與厚度及溫度相關(guān)的特性。林賽斯 TFA L59 薄膜綜合物性分析儀可以快速便捷地表征各種薄膜樣品的各項(xiàng)物理特性，為薄膜測(cè)量領(lǐng)域提供了一個(gè)非常完善的解決方案。易于使用的獨(dú)立模塊，優(yōu)化的測(cè)量設(shè)計(jì)體系以及經(jīng)驗(yàn)證的林賽斯固件和軟件包可提供高質(zhì)量的測(cè)量結(jié)果。

測(cè)量特性

導(dǎo)熱系數(shù)
電阻率
電導(dǎo)率
塞貝克系數(shù)
霍爾系數(shù)
電荷載流子濃度
霍爾遷移率
發(fā)射率
比熱容

系列產(chǎn)品一覽

TFA L59

測(cè)定薄膜的物理性質(zhì)

探索更多

基本功能

范德堡測(cè)量
塞貝克系數(shù)測(cè)量
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量
可在單次測(cè)量中完成薄膜所有特性參數(shù)的表征

軟件

林賽斯的所有熱分析儀器均采用軟件控制。各個(gè)軟件模塊需在 Microsoft Windows 操作系統(tǒng)下運(yùn)行。

整個(gè)軟件由溫度控制、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)評(píng)估三個(gè)模塊組成。Windows 軟件集成了測(cè)量準(zhǔn)備、實(shí)施和評(píng)估的熱分析測(cè)量的所有基本功能。

經(jīng)過我們技術(shù)專家和應(yīng)用專家的不斷努力，林賽斯開發(fā)出了全面的、易于理解的、易于使用的應(yīng)用程序軟件。

常規(guī)功能

與 MS® Windows? 系統(tǒng)完全兼容的軟件

斷電時(shí)的數(shù)據(jù)安全性

樣品接觸自動(dòng)控制

熱電偶斷路保護(hù)

當(dāng)前測(cè)量數(shù)據(jù)評(píng)估

曲線對(duì)比

評(píng)估結(jié)果的存儲(chǔ)與導(dǎo)出

ASCII 格式的數(shù)據(jù)導(dǎo)出與導(dǎo)入
數(shù)據(jù)導(dǎo)出至 MS Excel

便捷導(dǎo)出功能

用于存檔所有測(cè)量和評(píng)估數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫

在線幫助菜單

統(tǒng)計(jì)曲線評(píng)估

曲線分析的縮放選項(xiàng)

內(nèi)置評(píng)估插件

可加載任意數(shù)量的曲線進(jìn)行對(duì)比
測(cè)量軟件

簡(jiǎn)單易用的數(shù)據(jù)輸入，適用于溫度段和測(cè)量任務(wù)

自動(dòng)輸出實(shí)際測(cè)量的原始數(shù)據(jù)

全自動(dòng)測(cè)量

用于多樣品測(cè)量的全自動(dòng)測(cè)量程序
評(píng)估軟件

預(yù)定義的評(píng)估插件（依據(jù)已發(fā)布的模型）

或者：可直接訪問原始數(shù)據(jù)

可直接對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行評(píng)估以計(jì)算其它參數(shù)（熱導(dǎo)率、比熱容、電阻率 / 電導(dǎo)率、塞貝克系數(shù)）

數(shù)據(jù)繪圖和導(dǎo)出操作簡(jiǎn)便