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TFA - 薄膜綜合物性分析儀

高質量且易于使用的薄膜表征系統(tǒng)，可在單次測量中完成所有特性參數(shù)的表征。

在許多工業(yè)領域和應用中，精確掌握薄膜物理特性的知識變得愈發(fā)重要。典型實例包括相變材料、光存儲介質、熱電材料、發(fā)光二極管（LED）、燃料電池、相變存儲器、平板屏幕以及廣義上的半導體行業(yè)。
所有這些行業(yè)均使用單層或多層系統(tǒng)，以使器件（或組件）具備特定功能。薄膜的物理特性與固體材料存在差異顯著，這是因為較大的縱橫比（膜厚度與橫向擴展的比例）通常會引發(fā)額外的邊界和表面散射效應，進而往往導致電荷和熱輸運顯著減少。此外，用于制備薄膜的沉積技術種類繁多，這些技術對薄膜的材料特性也會產(chǎn)生重要影響。
由于在某些情況下，表征薄膜與固體材料的要求存在顯著差異，因此必須針對這兩個領域采用不同的測量技術，借助合適的測量設備來確定其與厚度及溫度相關的特性。林賽斯 TFA L59 薄膜綜合物性分析儀可以快速便捷地表征各種薄膜樣品的各項物理特性，為薄膜測量領域提供了一個非常完善的解決方案。易于使用的獨立模塊，優(yōu)化的測量設計體系以及經(jīng)驗證的林賽斯固件和軟件包可提供高質量的測量結果。

測量特性

導熱系數(shù)
電阻率
電導率
塞貝克系數(shù)
霍爾系數(shù)
電荷載流子濃度
霍爾遷移率
發(fā)射率
比熱容

系列產(chǎn)品一覽

TFA L59

測定薄膜的物理性質

探索更多

基本功能

范德堡測量
塞貝克系數(shù)測量
導熱系數(shù)測量
可在單次測量中完成薄膜所有特性參數(shù)的表征

軟件

林賽斯的所有熱分析儀器均采用軟件控制。各個軟件模塊需在 Microsoft Windows 操作系統(tǒng)下運行。

整個軟件由溫度控制、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)評估三個模塊組成。Windows 軟件集成了測量準備、實施和評估的熱分析測量的所有基本功能。

經(jīng)過我們技術專家和應用專家的不斷努力，林賽斯開發(fā)出了全面的、易于理解的、易于使用的應用程序軟件。

常規(guī)功能

與 MS® Windows? 系統(tǒng)完全兼容的軟件

斷電時的數(shù)據(jù)安全性

樣品接觸自動控制

熱電偶斷路保護

當前測量數(shù)據(jù)評估

曲線對比

評估結果的存儲與導出

ASCII 格式的數(shù)據(jù)導出與導入
數(shù)據(jù)導出至 MS Excel

便捷導出功能

用于存檔所有測量和評估數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫

在線幫助菜單

統(tǒng)計曲線評估

曲線分析的縮放選項

內(nèi)置評估插件

可加載任意數(shù)量的曲線進行對比
測量軟件

簡單易用的數(shù)據(jù)輸入，適用于溫度段和測量任務

自動輸出實際測量的原始數(shù)據(jù)

全自動測量

用于多樣品測量的全自動測量程序
評估軟件

預定義的評估插件（依據(jù)已發(fā)布的模型）

或者：可直接訪問原始數(shù)據(jù)

可直接對測量數(shù)據(jù)進行評估以計算其它參數(shù)（熱導率、比熱容、電阻率 / 電導率、塞貝克系數(shù)）

數(shù)據(jù)繪圖和導出操作簡便