基礎版本LSR-1(LSR L32)在室溫至 200 °C 范圍內(nèi)可以與各種選配件結(jié)合使用,以擴展其應用范圍。例如,低溫配件,支持通過液氮冷卻實現(xiàn)低至 -160 °C 的全自動測量,可快速冷卻至 80 K(僅限電阻測量)。可選的高溫探頭可將電阻測量擴展至 600 °C ,光照配件則支持在三波長 LED 光源下進行特定光照條件下的熱電測量。LSR-1(LSR L32)系統(tǒng)采用范德堡法(電阻測量)、靜態(tài)直流法和斜率塞貝克系數(shù)測量技術,適用于金屬和半導體樣品的表征。
其緊湊的臺式設計支持全自動和軟件控制操作,基于 Windows 的綜合軟件提供直觀的用戶界面,包括測量配置向?qū)?、?shù)據(jù)可靠性反饋以及集成的數(shù)據(jù)評估與存儲功能。真空密閉測量室與氣體計量系統(tǒng)相結(jié)合,確保滿足廣泛的應用需求,便于高精度熱電材料的研究。
類型 | LSR-1 (LSR L32) |
溫度范圍: | 基礎單元:室溫至 200 °C 低溫配件:-160 °C 至 200 °C |
測量原理: | 塞貝克系數(shù)測量范圍:0 至 2.5 mV/K,溫度梯度可達 10 K 塞貝克電壓測量范圍:±8 mV |
氣氛: | 惰性、還原性、氧化性、真空 推薦使用低壓氦氣以優(yōu)化測量條件 |
樣品支架: | 集成 PCB 板,配備主加熱和輔助加熱功能,確保均勻溫控 |
樣品尺寸(塞貝克系數(shù)測量): | 長度:8 mm 至 25 mm 寬度:2 mm 至 25 mm 厚度:薄膜樣品最高 2 mm |
樣品尺寸(電阻測量): | 長度:18 mm 至 25 mm 寬度:18 mm 至 25 mm 厚度:薄膜樣品最高 2 mm |
真空泵: | 選配 |
加熱速率: | 0.01 - 100 K/min,滿足快速升溫需求 |
溫度精度: | ±1.5 °C 或 0.0040?·?| t |,確保高精度溫控 |
電阻測量范圍: | 10 nOhm(nOhm = 10-9 Ohm),適用于低電阻材料 |
電壓測量范圍: | 0.5 nV/K(nV = 10-9 V),支持高靈敏度測量 |
廣泛應用于各種塊體和薄膜形式的熱電材料塞貝克系數(shù)和電阻的測量
在梯度加熱功率掃描過程中,測量塞貝克電壓 / 溫度梯度(藍色),并與線性回歸曲線(紅色)對比。塞貝克系數(shù)通過線性回歸的斜率確定,確保測量結(jié)果的精確性。
該方法中,塞貝克系數(shù)相對于鎳鋁(合金)測量。通過溫度測量鉑相對于鎳鋁(合金)絲的絕對塞貝克系數(shù),為材料性能評估提供可靠依據(jù)。
以康銅的塞貝克系數(shù)測量為例,展示材料在不同溫度下的熱電性能變化,為熱電材料研究提供重要參考。