基礎版本LSR-1（LSR L32）在室溫至 200 °C 范圍內(nèi)可以與各種選配件結(jié)合使用，以擴展其應用范圍。例如，低溫配件，支持通過液氮冷卻實現(xiàn)低至 -160 °C 的全自動測量，可快速冷卻至 80 K（僅限電阻測量）。可選的高溫探頭可將電阻測量擴展至 600 °C ，光照配件則支持在三波長 LED 光源下進行特定光照條件下的熱電測量。LSR-1（LSR L32）系統(tǒng)采用范德堡法（電阻測量）、靜態(tài)直流法和斜率塞貝克系數(shù)測量技術，適用于金屬和半導體樣品的表征。
其緊湊的臺式設計支持全自動和軟件控制操作，基于 Windows 的綜合軟件提供直觀的用戶界面，包括測量配置向?qū)?、?shù)據(jù)可靠性反饋以及集成的數(shù)據(jù)評估與存儲功能。真空密閉測量室與氣體計量系統(tǒng)相結(jié)合，確保滿足廣泛的應用需求，便于高精度熱電材料的研究。
| 類型 | LSR-1 (LSR L32) |
| 溫度范圍： | 基礎單元：室溫至 200 °C 低溫配件：-160 °C 至 200 °C |
| 測量原理： | 塞貝克系數(shù)測量范圍：0 至 2.5 mV/K，溫度梯度可達 10 K 塞貝克電壓測量范圍：±8 mV |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空 推薦使用低壓氦氣以優(yōu)化測量條件 |
| 樣品支架： | 集成 PCB 板，配備主加熱和輔助加熱功能，確保均勻溫控 |
| 樣品尺寸（塞貝克系數(shù)測量）： | 長度：8 mm 至 25 mm 寬度：2 mm 至 25 mm 厚度：薄膜樣品最高 2 mm |
| 樣品尺寸（電阻測量）： | 長度：18 mm 至 25 mm 寬度：18 mm 至 25 mm 厚度：薄膜樣品最高 2 mm |
| 真空泵： | 選配 |
| 加熱速率： | 0.01 - 100 K/min，滿足快速升溫需求 |
| 溫度精度： | ±1.5 °C 或 0.0040?·?| t |，確保高精度溫控 |
| 電阻測量范圍： | 10 nOhm（nOhm = 10-9 Ohm），適用于低電阻材料 |
| 電壓測量范圍： | 0.5 nV/K（nV = 10-9 V），支持高靈敏度測量 |
廣泛應用于各種塊體和薄膜形式的熱電材料塞貝克系數(shù)和電阻的測量
在梯度加熱功率掃描過程中，測量塞貝克電壓 / 溫度梯度（藍色），并與線性回歸曲線（紅色）對比。塞貝克系數(shù)通過線性回歸的斜率確定，確保測量結(jié)果的精確性。
該方法中，塞貝克系數(shù)相對于鎳鋁（合金）測量。通過溫度測量鉑相對于鎳鋁（合金）絲的絕對塞貝克系數(shù)，為材料性能評估提供可靠依據(jù)。
以康銅的塞貝克系數(shù)測量為例，展示材料在不同溫度下的熱電性能變化，為熱電材料研究提供重要參考。
