林賽斯推出的新型 LSR-1（LSR L32）設(shè)備，可輕松便捷地表征熱電材料（如傳感器或珀爾帖元件中使用的材料），適用于固體材料和薄膜形態(tài)?；A(chǔ)版本的新型 LSR-1（LSR L32）可在 -160 °C 至 200 °C 的溫度范圍內(nèi)，全自動同步測量塞貝克系數(shù)和電阻率。該基礎(chǔ)版本可配備氣體檢測器，還能通過氣體定量供給系統(tǒng)、樣品照明裝置和低溫選項進行功能擴展。
新型 LSR-1（LSR L32）系統(tǒng)支持根據(jù)著名的范德堡法（Van der Pauw method）表征金屬和半導體樣品的電阻率，并通過梯度掃描和線性回歸法測量塞貝克系數(shù)。
新型 LSR-1（LSR L32）可測量的薄膜材料應用廣泛，涵蓋半導體技術(shù)、液晶顯示器（LCD）生產(chǎn)，以及太陽能組件、傳感器制造、醫(yī)療技術(shù)等納米技術(shù)的諸多領(lǐng)域。
