材料的熱物理性質(zhì)以及最終產(chǎn)品的傳熱優(yōu)化在工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域變得越來越重要。
??經(jīng)過幾十年的發(fā)展,閃射法已經(jīng)成為常用的用于各種固體、粉末和液體熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散系數(shù)的測量方法。
薄膜熱物性在工業(yè)產(chǎn)品中正變得越來越重要,如:相變光盤介質(zhì)、熱電材料、發(fā)光二極管(LED ) ,相變存儲(chǔ)器、平板顯示器以及各種半導(dǎo)體。在這些工業(yè)領(lǐng)域中,特定功能沉積膜生長在基底上以實(shí)現(xiàn)器件的特殊功能。由于薄膜的物理性質(zhì)與塊體材料不同,在許多應(yīng)用中需要專門測定薄膜的參數(shù)。
??基于已實(shí)現(xiàn)的激光閃射技術(shù),LINSEIS TF-LFA 薄膜導(dǎo)熱測試儀(Laserflash for thin films)可以測量80nm——20μm厚度薄膜的熱物理性質(zhì)。
1.瞬態(tài)熱反射法(后加熱前檢測(RF)):
由于薄膜材料的物理性質(zhì)與基體材料顯著不同,必需要有相應(yīng)的技術(shù)來克服傳統(tǒng)激光閃射法的不足,即瞬態(tài)熱閃射法。
? ?測量模型與傳統(tǒng)激光閃射法相同:檢測器和激光器在樣品兩側(cè)??紤]到紅外探測器測試薄膜太慢,因此檢測是通過熱反射方法完成的。該技術(shù)的原理是材料在加熱時(shí),表面反射率的變化可最終用于推導(dǎo)出熱性能。測量反射率隨時(shí)間的變化,得到的數(shù)據(jù)代入包含的系數(shù)模型里面并快速計(jì)算出熱性能。
2.?時(shí)域熱反射法(前加熱前檢測(FF)):
時(shí)域熱反射技術(shù)是另一種測試薄層或薄膜熱性能(熱導(dǎo)率,熱擴(kuò)散率)的方法。測量方式的幾何構(gòu)造被稱為“前加熱前檢測(FF)”,因?yàn)闄z測器和激光在樣品上的同一側(cè)。該方法可以應(yīng)用于非透明基板上不適合使用RF技術(shù)的薄膜層。
3.?瞬態(tài)熱反射法(RF)和時(shí)域熱反射法(FF)相結(jié)合:
兩種方法可以集成在一個(gè)系統(tǒng)中并實(shí)現(xiàn)兩者優(yōu)點(diǎn)的結(jié)合。
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所有的LINSEIS熱分析設(shè)備都是用計(jì)算機(jī)控制的,各個(gè)軟件模塊僅在Microsoft? Windows?操作系統(tǒng)上運(yùn)行。完整的軟件包括3個(gè)模塊:溫度控制,數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析。與其他熱分析系統(tǒng)一樣,該32位Linseis軟件可以實(shí)現(xiàn)所有測量準(zhǔn)備、實(shí)施和評(píng)估的基本功能。
評(píng)估軟件
測量軟件
陶瓷/玻璃/建材,金屬/合金,無機(jī)物。
陶瓷,建材和玻璃工業(yè),汽車/航空/航天,發(fā)電/能源,企業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)科研,金屬/合金工業(yè),電子工業(yè)。