Linseis致力于為全球熱分析儀器的客戶提供產(chǎn)品支持和技術(shù)服務(wù)。
林賽斯作為一家專業(yè)的熱分析儀器廠家，不只是研發(fā)、制造儀器，我們也與熱分析相關(guān)用戶緊密合作，關(guān)注材料熱物性分析的前沿發(fā)展。
憑借對(duì)熱分析特定應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)知識(shí)，Linseis 技術(shù)顧問(wèn)與科學(xué)家和實(shí)驗(yàn)室研究人員展開(kāi)合作。我們?cè)u(píng)估、開(kāi)發(fā)和提供從樣品前處理到最終報(bào)告的工作流程，無(wú)論您是過(guò)渡至新系統(tǒng)、改善現(xiàn)有系統(tǒng)還是運(yùn)行現(xiàn)有的解決方案都適用。我們可協(xié)助儀器選購(gòu)、儀器更新?lián)Q代，以滿足不斷變化的實(shí)驗(yàn)室需求。我們?cè)跓岱治鲱I(lǐng)域提供專業(yè)的技術(shù)服務(wù)支持與應(yīng)用合作。
DIL–膨脹測(cè)量
測(cè)定-150°C和1750°C之間的熱膨脹系數(shù)和熱膨脹系數(shù)
根據(jù)ASTM D 696、E 228、E 831、E 1363、E 1545、E 1824、DIN 53752
DSC-差示掃描量熱法
在-150°C至1550°C范圍內(nèi)測(cè)量焓、相變和比熱容（Cp）
根據(jù)ASTM C 351、D 3417、D 3895、D 4565、E 793、E 794、DIN 51004、51007、53765、65467、DIN EN 728、ISO 10837、11357、11409
TGA-熱重分析
RT至1550°C之間質(zhì)量變化/分解殘留物的測(cè)量
根據(jù)ASTM E 914、E 1131、E 1868、DIN 51006、ISO 7111、11358
STA–同步熱分析
同時(shí)測(cè)量TG和DSC測(cè)定RT和1550℃之間的質(zhì)量變化和量熱效應(yīng)
根據(jù)ASTM E 914、E 1131、E 1868、DIN 51006、ISO 7111、11358
LFA–激光閃射分析
在室溫和1500℃之間測(cè)量熱擴(kuò)散率、熱導(dǎo)率和比熱容
根據(jù)ASTM E 1461、DIN 30905、DIN EN 821
THB–瞬態(tài)熱橋測(cè)量
RT至150°C之間導(dǎo)熱系數(shù)的測(cè)量
HFM–熱流法導(dǎo)熱儀
測(cè)量5°C至80°C之間絕緣子和絕緣材料的熱導(dǎo)率和熱阻（u值）
根據(jù)ASTM C518、JIS A 1412、ISO 8301、DIN 12667
LSR–塞貝克、電阻和ZT測(cè)量
RT 至1100°C之間測(cè)量塞貝克系數(shù)、電導(dǎo)率/電阻和優(yōu)值系數(shù)（ZT）
根據(jù)JIS R 1650-1
HCS–霍爾效應(yīng)、載流子濃度和塞貝克測(cè)量
電導(dǎo)率/電阻率、載流子密度、載流子遷移率、霍爾常數(shù)、塞貝克系數(shù)的測(cè)量
在-196°C和700°C之間
根據(jù)ASTM F76-08
RITA-淬火膨脹法
鋼材、CCT、CTT、TTT的相圖和相變測(cè)量；
在RT 至1600°C之間快速加熱和冷卻時(shí)測(cè)量熱膨脹系數(shù)（CTE）
根據(jù)ASTM A1033-04
TFA-薄膜分析儀
在-160℃～+280℃之間測(cè)量薄膜和涂層的熱導(dǎo)率、比熱、電阻率、塞貝克系數(shù)和霍爾系數(shù)
TF-LFA薄膜激光導(dǎo)熱儀
室溫至500℃薄膜和涂層的熱擴(kuò)散率和熱導(dǎo)率的測(cè)量
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